获得焊接连接,降低接头因时间的推移而松动或腐蚀的风险
nVent ERICO Cadweld 放热连接用于各种工业和应用中,将导体熔合在一起,形成分子键,其载流能力等于导体的载流能力。
凭借全球超过 100 万个经过现场验证的连接,您可以相信您的应用 - 无论大小 - 经得起时间的考验,不会松动、断裂或腐蚀。
优点:
- 获得与导体相等的载流能力
- 产生不会松动或腐蚀的永久分子键
- 承受重复的故障电流
- 以最少的培训进行安装
在 nVent,我们在电气连接方面的领先地位可以追溯到 1903 年,我们不断为您带来新的创新,以简化安装,节省时间和资源,创造更安全的环境,并在该领域提供卓越的性能。